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牛津儀器科技(上海)有限公司
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產(chǎn)品詳情
牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測(cè)器
牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測(cè)器的圖片
參考報(bào)價(jià):
面議
品牌:
牛津
關(guān)注度:
1730
樣本:
暫無(wú)
型號(hào):
牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測(cè)器
產(chǎn)地:
英國(guó)
信息完整度:
典型用戶:
暫無(wú)
索取資料及報(bào)價(jià)
認(rèn)證信息
 
名 稱:牛津儀器科技(上海)有限公司
認(rèn) 證:工商信息已核實(shí)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Ultim Max TEM,搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新設(shè)計(jì)80mm2的傳感器,進(jìn)一步接近樣品并提供更多的x射線計(jì)數(shù)。UltimMax TEM結(jié)合了無(wú)窗設(shè)計(jì)和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

·       0.2 - 0.6 srad的立體角

·       對(duì)低能量x射線的靈敏度可提高8倍

·       可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

在原位實(shí)驗(yàn)中,可在1000°C的溫度下采集譜圖




旗艦款SDD傳感器Ultim Max TLE,搭載于透射電子顯微鏡(TEM),經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)優(yōu)化,提高了小束斑下的計(jì)數(shù)率,可表征原子尺度的元素信息。

這一性能是通過(guò)優(yōu)化的晶體形狀,100mm2大面積晶體,無(wú)窗結(jié)構(gòu),優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)和Extreme級(jí)電子元器件來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

  • 0.5 - 1.1srad的立體角

  • 對(duì)低能量x射線的靈敏度可提高8倍

  • 可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

在原位實(shí)驗(yàn)中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖




Xplore TEM是專門(mén)為120kV和200kV 透射電鏡(TEM)的常規(guī)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的元素分析系統(tǒng)。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準(zhǔn)確的元素表征。

  • 0.1 - 0.4 srad的立體角

  • 從Be到Cf的元素檢測(cè)

  • 可在200,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

SATW窗口為廣泛的應(yīng)用提供了極大的便利性


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