認(rèn) 證:工商信息已核實(shí)
訪問(wèn)量:210430
Ultim Max TEM,搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新設(shè)計(jì)80mm2的傳感器,進(jìn)一步接近樣品并提供更多的x射線計(jì)數(shù)。UltimMax TEM結(jié)合了無(wú)窗設(shè)計(jì)和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
· 0.2 - 0.6 srad的立體角
· 對(duì)低能量x射線的靈敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
在原位實(shí)驗(yàn)中,可在1000°C的溫度下采集譜圖
旗艦款SDD傳感器Ultim Max TLE,搭載于透射電子顯微鏡(TEM),經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)優(yōu)化,提高了小束斑下的計(jì)數(shù)率,可表征原子尺度的元素信息。
這一性能是通過(guò)優(yōu)化的晶體形狀,100mm2大面積晶體,無(wú)窗結(jié)構(gòu),優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)和Extreme級(jí)電子元器件來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
0.5 - 1.1srad的立體角
對(duì)低能量x射線的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
在原位實(shí)驗(yàn)中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
Xplore TEM是專門(mén)為120kV和200kV 透射電鏡(TEM)的常規(guī)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的元素分析系統(tǒng)。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準(zhǔn)確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測(cè)
可在200,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
SATW窗口為廣泛的應(yīng)用提供了極大的便利性
- 推薦產(chǎn)品
- 供應(yīng)產(chǎn)品
- 產(chǎn)品分類
- 聚焦離子束掃描電鏡用納米操縱手
- 臺(tái)式磁共振分析儀
- 牛津儀器OmniGIS II氣體注入系統(tǒng)
- 光學(xué)低溫恒溫器
- 牛津儀器無(wú)液氦光譜學(xué)恒溫器
- 牛津儀器相機(jī)Andor Zyla CMOS
- 牛津儀器TeslatronPT無(wú)液氦磁體低溫系統(tǒng)
- 牛津儀器相機(jī)Andor iKon-XL CCD
- 牛津儀器Azteclive能譜實(shí)時(shí)元素成像系統(tǒng)
- 門(mén)控探測(cè)器Andor iStar
- 無(wú)液氦稀釋制冷機(jī)系統(tǒng)
- 牛津儀器高速共聚焦成像平臺(tái)Andor Dragonfly
- 牛津儀器C-Swift EBSD探測(cè)器
- 牛津儀器Microstat顯微光學(xué)恒溫器
- 牛津儀器PlasmaPro100 Estrelas刻蝕設(shè)備
- 牛津儀器PECVD等離子體處理系統(tǒng)