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第32屆藥品質(zhì)量檢驗檢測技術(shù)大會，7月24-25日在西安匯成天璽酒店舉行。DKSH大昌華嘉科學(xué)儀器在C3展位現(xiàn)場展示密度/折光儀、旋光儀、水分活度儀、納米粒度及Zeta電位分析儀，歡迎您的蒞臨。

DQDC2025大會現(xiàn)場

大昌華嘉展位：C3

麥奇克NANOTRAC WAVE II納米粒度及Zeta電位儀采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

麥奇克NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態(tài)光背散射技術(shù)（DLS），首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布，外置固定式光學(xué)探頭滿足任何應(yīng)用需求。