推薦會議速報|散射光測量中的角度盲區(qū)及其對粒度測量的影響

中國粉體網訊 2020年7月3日，由中國粉體網聯(lián)合中國顆粒學會顆粒測試專委會、北京粉體技術協(xié)會共同舉辦的“粉體粒度表征及在線檢測技術網絡研討會”如期進行。來自珠海真理光學儀器有限公司的張福根董事長帶來精彩的《散射光測量中的角[更多]