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正業(yè)科技自主研發(fā)生產(chǎn)PCB精密檢測(cè)儀器，繼特性阻抗測(cè)試儀ZK2120之后又推出新的高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130，ZK2130比ZK2120測(cè)的阻抗值更加精確，且ZK2130帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能。ZK2013的推出更能滿足客戶的需求，同時(shí)也得到了廣大客戶的認(rèn)可。

高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的，能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試PCB跡線的特性阻抗，并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻抗測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。

高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130特點(diǎn)：

1、批量化、自動(dòng)化測(cè)試，操作簡單、測(cè)試快捷，適合PCB工廠快速測(cè)試。

2、Windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。

3、提供單端和差分阻抗測(cè)試。

4、支持2通道、4通道測(cè)試。

5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。

6、集成測(cè)試文件編輯器，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。

7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤上。

8、顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。

9、打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。

10、符合IPC-TM-650和IPC2141標(biāo)準(zhǔn)。

高頻特性阻抗測(cè)試儀ZK2130技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目規(guī)格

型號(hào)TDR-ZK2120

控制阻抗測(cè)試范圍20～150Ω

測(cè)量精度50Ω±1%

測(cè)量長度0.05～2m

水平顯示分辨率0.2mm

垂直顯示分辨率0.05Ω

測(cè)試方法時(shí)域反射法

帶寬3GHZ

數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能 SPC功能模塊