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用途：
該系列儀器適用于檢測PCB內、外層蝕刻后（上綠油前）線路的上幅及下幅寬度，也可檢測線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔和弧的直徑等；并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
特點：
1、精度：采用可精密調焦裝置，以及圖像處理、自動尋邊和亞像素算法等技術； 2、高效：
①紅光LED定位；
②自動尋邊技術；
③具備SPC統(tǒng)計分析功能。
技術參數：
項目 | XK25 | |
精度 | ①測量精度 | ±1μm |
②分辨率 | 0.4～2.7μm/pixel | |
③總放大倍率 | 70X～450X | |
④光學放大倍率 | 1.4～9×連續(xù)可調 | |
對象 | ①板寬 | ≤760mm |
②視野范圍 | 0.53mm×0.4mm～3.3mm×2.5mm | |
③線寬 | 20-1200μm | |
儀器外形尺寸（不含電腦） XK25 | 960mmx780mmx1280mm | |
重量（不含電腦） | 145Kg | |
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