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MProbe MSP顯微分光光度計
MProbe MSP顯微分光光度計

參考價格

面議

型號

品牌

產(chǎn)地

美國

樣本

暫無
廣州市固潤光電科技有限公司

會員

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第3年

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生產(chǎn)商

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MProbe MSP

顯微薄膜測量儀

MProbe讓你成為測量專家

大部分半透明的或具有輕微吸收性的薄膜能夠被快速、可靠的測量:氧化物、氮化物、感光耐蝕膜、聚合物、半導(dǎo)體(Si, aSi,polySi)、半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs, CdTe,CIGS)、硬涂層(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene,PMMA,聚酰胺),薄金屬薄膜等。

厚度范圍: 1 nm - 1 mm

波長范圍: 200 nm -1700 nm

光斑尺寸:50 um -4 um

在薄膜太陽能電池中的應(yīng)用: aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe-全太陽能堆棧測量LCD, FPD應(yīng)用: ITO, 細(xì)胞間隙,聚酰胺。光學(xué)涂層: 介質(zhì)濾波器,硬涂層,防反射涂層半導(dǎo)體和電解質(zhì): 氧化物,氮化物, OLED堆

實時測量和分析。各種多層次的, 薄的,厚的,獨(dú)立的和不均勻的層 。

豐富的材料庫 (500多種材料) – 新材料容易增添。支持參數(shù)化材料:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等

使用靈活: 用TCP接口能容易的和外部系統(tǒng)連接。

測量參數(shù): 厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度

界面友好強(qiáng)大: 一鍵式測量和分析。強(qiáng)大的工具:仿真和靈敏度分析,背景和縮放修正,連接層和材料,多樣品測量、動態(tài)測量和生產(chǎn)批量處理。.

氧化物(100 nm)測量,光斑尺寸40 um 波長范圍:200 nm-1000 nm

MProbeUVVisNIR-MSP system

精度

<0.01nm或0.01%

精確度

<0.2%或1 nm

穩(wěn)定性

<0.02nm或0.03%

光斑尺寸

50 μm-4 μm

樣本大小

從100 mm到200mm x 200mm

物鏡

10x,20x,50x (Vis), 8x(UV-NIR).

等焦面95,長WD物鏡

基本選項/參數(shù)

選項

產(chǎn)品描述

評析

-MXY[6 or 8]

電動平臺為6” x6” (150 mm)或8”x8”

(200 mm)。包含控制器和支持映射軟件。

長0.5 mm,重復(fù)性1 um。

8”x8” 包含手工階段作為所有模型的標(biāo)準(zhǔn)

-TOM

透光率測量配置。包括:玻璃插入的階

段,光源/電容器,光纖

適用于Vis和IR

-TOSwitch

使用相同的光譜通道結(jié)合了反射和透射系數(shù)測量

需要-TOM.詳情參考單獨(dú)小冊

-APO100

APO 100X 物鏡(可見物),95 mm 的等焦面,R=0.7 μm

10x,20x,50x and 8x UV-NIR 都包含在標(biāo)準(zhǔn)里

-CCD

相機(jī)目鏡2 MP

其他的相機(jī):UV, Vis, IR 均可用

型號

波長范圍

光譜儀探測器/檢測器/光源

厚度范圍*

VIS-MSP

400-1100nm

分光儀 F4/Si 3600像素點/鎢-鹵素光源

15nm-20 μm

(可多達(dá)50 μm)

UVVisSR-MSP

200-1000nm

分光儀 F4/ Si CCD 3600像素點/氘-鎢鹵組合式光源

1nm-20μm

(可多達(dá)50 μm)

HRVIS-MSP

700-1000nm

HR分光儀F4/Si 3600 像素點/鎢-鹵素光源

1μm-400 μm

NIR-MSP

900-1700nm

傳輸光譜儀(TVG)

F2/512 InGaAs/鎢-鹵素光源

100nm-200 μm

VISNIR-MSP

400-1700nm

分光儀 F4 Si CCD 3600 像素點(Vis channel);傳輸光譜儀(TVG)F2/512 InGaAs PDA( NIR channel)

氘-鎢鹵組合式光源

15nm-200 μm

UVVISNIR-

MSP

200-1700nm

分光儀 F4 Si CCD 3600 像素點(Vis channel);傳輸(TVG)F2/512 InGaA(NIR channel)

氘-鎢鹵組合式光源

1nm-300 μm

XT-MSP

1590nm-1650nm

傳輸光譜儀 (TVG)

F2/512 InGaAs/鎢 -鹵素光源

10μm-1mm

* T, n & k 測量的厚度范圍為25nm – 5um

其他配置也是可以做到,歡迎原始設(shè)備制造商咨詢和定制開發(fā)項目。

對所有系統(tǒng)中的配件有一年的質(zhì)量保證。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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