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PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其**技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
操作簡單,測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。
光學鏡片
智能手機玻璃基板
碳化硅,藍寶石等
技術參數(shù):
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務
易用性
性價比
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