參考價(jià)格
面議型號
X'Pert3 MRD品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無重現(xiàn)性:
N/A儀器原理:
靜態(tài)光散射分散方式:
N/A測量時(shí)間:
3-5min測量范圍:
N/A誤差率:
N/A分辨率:
N/A看了高分辨X射線衍射儀 X'Pert3 MRD的用戶又看了
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X'Pert 平臺(tái)在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺(tái)具有新型機(jī)載控制電子裝置,符合X 射線和運(yùn)動(dòng)安全規(guī)范,且具有環(huán)保和可靠性能,已準(zhǔn)備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括:
? 全新高分辨率測角儀,它使用 Heidenhain 編碼器,因而準(zhǔn)確性更高且定位反饋時(shí)間更短
?無需使用工具即可快速將光管位置從點(diǎn)焦斑更改為線焦斑
? 得益于氣動(dòng)快門和光束衰減器,系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)間滿足過程控制要求
? CRISP*(包括無鉛光管塔)確保入射光路組件的壽命更長
? 第二代 PreFIX,確保實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的光學(xué)器件定位
? 面向未來的單板計(jì)算機(jī)控制器,確保更好的連接性和更出色的遠(yuǎn)程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現(xiàn)由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕。該技術(shù)使儀器運(yùn)行更可靠,避免額外的維護(hù)工作。
PreFIX 技術(shù)
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2021-08-06
展期:2025年6月24日-26日展館:上海新國際博覽中心W5館地址:上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號展位號:W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日,馬爾文帕納科(Ma
XRD(X 射線衍射)高通量測試是一種能在短時(shí)間內(nèi)對大量樣品進(jìn)行快速分析的技術(shù),其發(fā)展與應(yīng)用主要源于傳統(tǒng) XRD 測試在面對復(fù)雜樣品體系和大規(guī)模分析需求時(shí)的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容
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