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超高速分光干渉式膜厚儀
超高速分光干渉式膜厚儀

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

品牌

大塚電子

產(chǎn)地

江蘇

樣本

暫無(wú)
大塚電子(蘇州)有限公司

會(huì)員

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第6年

|

生產(chǎn)商

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以非接觸方式測(cè)量晶圓等的研磨和拋光工藝,超高速、實(shí)時(shí)、高精度測(cè)量晶圓和樹脂

產(chǎn)品詳細(xì)信息

特點(diǎn)

  • 非接觸式,非破壞性厚度測(cè)量

  • 反射光學(xué)系統(tǒng)(可從一側(cè)接觸測(cè)量)

  • 高速(**5 kHz)實(shí)時(shí)評(píng)測(cè)

  • 高穩(wěn)定性(重復(fù)精度低于0.01%)

  • 耐粗糙度強(qiáng)

  • 可對(duì)應(yīng)任意距離

  • 支持多層結(jié)構(gòu)(*多5層)

  • 內(nèi)置NG數(shù)據(jù)消除功能

  • 可進(jìn)行距離(形狀)測(cè)量(使用配件嵌入式傳感器)*

*通過(guò)測(cè)量測(cè)量范圍內(nèi)的光學(xué)距離

 

Point1:獨(dú)有技術(shù)

對(duì)應(yīng)廣范圍的薄膜厚度并實(shí)現(xiàn)高波長(zhǎng)分辨率。
采用大塚電子獨(dú)有技術(shù)制成緊湊機(jī)身。

Point2:高速對(duì)應(yīng)

即使是移動(dòng)物體也可利用準(zhǔn)確的間距測(cè)量,

是工廠生產(chǎn)線的理想選擇。

Point3:各種表面條件的樣品都可對(duì)應(yīng)

從20微米的小斑點(diǎn)到

各種表面條件的樣品,都可進(jìn)行厚度測(cè)量。

Point4:各種環(huán)境都可對(duì)應(yīng)

因?yàn)?遠(yuǎn)可以從200 mm的位置進(jìn)行測(cè)量,

所以可根據(jù)目的和用途構(gòu)建測(cè)量環(huán)境。

測(cè)定項(xiàng)目

厚度測(cè)量(5層)

用途

各種厚膜的厚度

式樣

型號(hào)SF-3/200SF-3/300SF-3/1300SF-3/BB
測(cè)量厚度范圍?5~40010~77550~13005~775
樹脂厚度范圍?10~100020~1500100~260010~1500
*小取樣周期kHz(μsec)5(200)※1-
重復(fù)精度%0.01%以下※2
測(cè)量點(diǎn)徑?約φ20以上※3
測(cè)量距離mm50.80.120※4.200※4
光源半導(dǎo)體光源(クラス3B相當(dāng))
解析方法FFT解析,*適化法※5
interfaceLAN,I/O入輸出端子
電源DC24V式樣(AC電源另行銷售)
尺寸mm123×128×224檢出器:320×200×300
     光源:260×70×300





選配各種距離測(cè)量探頭,電源部(AC用),安全眼睛
     鋁參考樣品,測(cè)量光檢出目標(biāo),光纖清理器

 *1 : 測(cè)量條件以及解析條件不同,*小取樣周期也不同。
*2 : 是產(chǎn)品出貨基準(zhǔn)的保證值規(guī)格,是當(dāng)初基準(zhǔn)樣品AirGap約300μm和
         約1000μm測(cè)量時(shí)的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差( n = 20 )
*3 : WD50mm探頭式樣時(shí)的設(shè)計(jì)值
*4 : 特別式樣
*5 : 薄膜測(cè)量時(shí)使用
※CE取得品是SF-3/300、SF-3/1300

基本構(gòu)成

 

測(cè)定例

 

貼合晶圓

 

 

Mapping結(jié)果
研削后300mm晶圓硅厚度


創(chuàng)新點(diǎn)

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
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      大塚電子利用光技術(shù),開發(fā)出各種分析測(cè)量裝置,給客戶提供尖端測(cè)量技術(shù)支持。以測(cè)量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主,定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會(huì))。 

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