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MLCC（Multi-layer Ceramic Capacitors）是片式多層陶瓷電容器英文縮寫。是由印好電極（內電極）的陶瓷介質膜片以錯位的方式疊合起來，經(jīng)過一次性高溫燒結形成陶瓷芯片，再在芯片的兩端封上金屬層（端電極），從而形成一個類似獨石的結構體，故也叫獨石電容器。

圖1 MLCC結構

MLCC是用量較大、發(fā)展較快的片式電子元件品種之一，已被廣泛應用于通訊、計算機及外圍產(chǎn)品、消費類電子、汽車電子和其他信息電子領域，在電子線路中起到振蕩、耦合、旁路和濾波等作用。而介質材料是MLCC中重要的組成部分，介質材料鈦酸鋇（BT）因其具有介電常數(shù)高、介電損耗小以及良好的鐵電和絕緣性能被廣泛用于制備MLCC。MLCC 生產(chǎn)過程中，首先需調漿，即將陶瓷粉和粘合劑、溶劑等按一定比例分散研磨處理，形成陶瓷漿料。質量良好的陶瓷漿料的制備是制作MLCC的基礎。常用的陶瓷漿料是砂磨機處理后的鈦酸鋇漿料，但是采用砂磨機，清洗不方便，漿料的分散性不好，顆粒的粒徑較大且分布比較寬，產(chǎn)品性能也有局限。所以，選擇良好分散研磨效果的設備顯得尤為重要。

為了解決上述技術問題，我們提供了用TRILOS超高壓納米均質機，制作MLCC用鈦酸鋇漿料的方法。

1. TRILOS超高壓納米均質機介紹：

TRILOS超高壓納米均質機采用高壓噴射原理，能夠在短時間內產(chǎn)生巨大的剪切力，碰撞力，氣穴力，從而將大量能量集中作用于物料，使物料的成分以完全的均質的狀態(tài)存在，能夠大幅提升效率。

TRILOS超高壓納米均質機不堵不漏，采用10寸工業(yè)觸控屏，可實時監(jiān)控壓力曲線圖，最高壓力可達4000bar。

圖2 均質機原理圖

圖3 各型號的TRILOS超高壓納米均質機

2. 實驗描述：

采用TRILOS ND100超高壓納米均質機，將鈦酸鋇漿料先在1000bar壓力下處理10遍，然后在1500bar壓力下再處理3遍。分別采用LISICO分散均質分析測試儀和LUMiSizer分散均質分析測試儀，測試各樣品的分散性。

3. 測試結果與分析：

LISICO分散均質測試結果如圖5所示。一般地，樣品的弛豫時間越小，說明顆粒吸附的溶劑越多，固液之間的親和性越好，顆粒的分散性越好。由圖可知，隨著均質次數(shù)的增加，樣品的弛豫時間大幅減小，表明其分散性顯著改善，其中，B-0為均質處理前的樣品。

圖4 LISICO分散均質分析測試儀（核磁共振法）

圖5 超高壓均質次數(shù)對鈦酸鋇漿料分散性的影響

采用LUMiSizer分散均質分析測試儀，測試均質前后鈦酸鋇樣品的長期分散性，結果如圖7所示。使用該儀器最多可以比用肉眼在自然重力下觀察試管的分離過程快2300倍。只需數(shù)分鐘或數(shù)小時，而不是幾個月或幾年，就能完成分散體在原始濃度下的快速分散性排序。以不穩(wěn)定性指數(shù)為指標進行分散性分析，不穩(wěn)定性指數(shù)越低代表體系的分散性越好。由圖可知，相較均質處理前的B-0樣品，處理后的樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)較低，表明高壓均質有利于鈦酸鋇漿料分散性的提高。此外，將均質壓力從1000bar提高到1500bar（B-13），樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)變化不大，表明均質壓力對鈦酸鋇漿料的分散性影響不大。其中，在1000bar下處理2次的樣品（B-2）的分散性最好。

圖6 LUMiSizer分散均質分析測試儀（測試條件：1150 g，16h，25℃）

圖7 均質前后鈦酸鋇漿料的不穩(wěn)定性指數(shù)對比

圖8 分散性測試前（左）和測試后（右）各樣品的圖片

4. 結論：

TRILOS超高壓納米均質機，對MLCC用鈦酸鋇漿料有良好的分散作用。在1000bar下處理2次后，樣品的長期分散性最好。