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SCI-02A Zeta電位粒度測(cè)量?jī)x

一 主要用途：

Zeta電位粒度測(cè)量?jī)x采用全量程米氏散射及電泳原理，可以測(cè)懸浮于液體中的納米顆粒表面都存在電荷和粒徑分布，通過(guò)Zeta電位粒度測(cè)量，可以幫助工程師找到阻止顆粒絮凝、保持懸浮液穩(wěn)定的配方，同樣也可以幫助工程師找到促使顆粒絮凝（廢水處理），加速顆粒沉淀的方法，經(jīng)過(guò)多年的不斷深度開(kāi)發(fā)和完善，業(yè)已成為行業(yè)中便捷儀器之一。

二 技術(shù)參數(shù)：

1、采用全量程米氏散射及電泳原理

2、粒度測(cè)試范圍：0.1-800μm

3、電位值范圍：-500mV ～ +500mV

4、重復(fù)性誤差、準(zhǔn)確性誤差：＜1%

5、測(cè)量方式：氦氖氣體光源，自動(dòng)上水，自動(dòng)對(duì)中，100W超聲和高至3000轉(zhuǎn)/分鐘可調(diào)反向渦輪攪拌雙級(jí)分散，支持一鍵式全自動(dòng)和手動(dòng)粒徑分析。

6、zeta的測(cè)量過(guò)程采用視頻追蹤技術(shù)，可捕捉膠體顆粒在電場(chǎng)中的泳動(dòng)軌跡。

7、采用恒壓低頻轉(zhuǎn)換電源, 既可以防止極化，又可以大大提高測(cè)量速度，正負(fù)換向時(shí)間為 0.30 秒至 1.20秒連續(xù)可調(diào)，采樣時(shí)間僅需 3～10 秒，電極間電壓可根據(jù)需要調(diào)節(jié)。

8、標(biāo)配PC端應(yīng)用軟件，預(yù)裝應(yīng)用程序和驅(qū)動(dòng)程序的數(shù)據(jù)采集處理微機(jī)操作系統(tǒng)，與設(shè)備相連，運(yùn)行專(zhuān)業(yè)軟件，對(duì)設(shè)備進(jìn)行設(shè)置和控制，顯示、存儲(chǔ)運(yùn)行數(shù)值和曲線(xiàn)。