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顆粒測試基本知識百問百答--14各種粒度測試方法的優(yōu)勢和不足

顆粒測試基本知識百問百答--14各種粒度測試方法的優(yōu)勢和不足
丹東百特  2017-04-26  |  閱讀:3595

(1) 激光法:優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準確性好,可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點:分辨力較低。

(2) 動態(tài)圖像法:優(yōu)點:操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準確性好,可測量最大顆粒,可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點:不能分析細顆粒(如<2μm),儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法:優(yōu)點:成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點:操作復(fù)雜,分析速度慢,無法分析細顆粒(如<2μm)。

(4) 電鏡法:優(yōu)點:能精確分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,圖像清晰,表面紋理可見,分辨率高,是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點:代表性差、儀器價格昂貴。

(5) 光阻法:優(yōu)點:測試速度快,可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),分辨力高,樣品用量少。缺點:進樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,不適用粒徑<1μm 的樣品。

(6) 電阻法:優(yōu)點:操作簡便,可測顆粒數(shù),等效概念明確,速度快,準確性好。缺點:不適合測量超細樣品和寬分布樣品,維護時更換小孔管比較麻煩。

(7) 沉降法:優(yōu)點:操作簡便,儀器可以連續(xù)運行,價格較低,測試范圍較大。缺點:測試時間較長,操作復(fù)雜。

(8) 篩分法:優(yōu)點:簡單、直觀、設(shè)備造價低,常用于大于38μm(400目)的樣品。缺點:不能用于超細樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大。

(9) 動態(tài)光散射法:優(yōu)點:測試范圍寬(從納米到亞微米)、測試速度快,重復(fù)性好,操作簡便。缺點:測試寬分布的納米材料誤差及較大。

(10) 超聲波法:優(yōu)點:可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,無需稀釋樣品。 缺點:分辨率較低,準確性和重復(fù)性較差,結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

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