近日，百特BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀成功通過中國分析測試協(xié)會的成果評價，專家組一致認定該儀器綜合性能達到國際同類產(chǎn)品先進水平，部分技術(shù)具有突破性創(chuàng)新。

本次成果評價會由中國分析測試協(xié)會技術(shù)部主任吳淑琪研究員主持會議，專家組包括中國科學院納米中心王孝平研究員（組長）、遼寧省分析測試協(xié)會劉成雁教授、東北大學教授安希忠、北方工業(yè)大學教授陳吉文以及儀器專家趙泰高級工程師。專家組實地考察了研發(fā)中心、儀器制造部、質(zhì)檢部、精密加工車間和實驗室，對百特持續(xù)十六年研發(fā)的BeNano儀器及規(guī)范的產(chǎn)品質(zhì)量管理體系給予高度評價。

鑒定會上，董青云總經(jīng)理向?qū)＜医M介紹了百特30年的發(fā)展歷程。產(chǎn)品總監(jiān)寧輝博士報告了BeNano的研發(fā)背景、核心功能、卓越性能及優(yōu)異市場表現(xiàn)。

成果評價會上，專家們審閱資料、聽取報告、現(xiàn)場質(zhì)詢，并查看了儀器運行情況。他們認為，BeNano儀器有以下的創(chuàng)新與優(yōu)勢：

功能強大，集成創(chuàng)新：

融合動態(tài)光散射、電泳光散射、靜態(tài)光散射等6大光學技術(shù)，實現(xiàn)納米粒徑、Zeta電位、分子量、液體折射率、微流變、顆粒濃度等12種關(guān)鍵檢測功能。

突破創(chuàng)新，性能領(lǐng)先：

應(yīng)用“消光法動態(tài)光散射（LEDLS）”技術(shù)，實現(xiàn)濃度高達108-1016個/mL的顆粒數(shù)量精準檢測；將沉降法技術(shù)有機融入納米粒度儀中，將納米粒度儀的粒徑檢測上限大幅擴展至50μm；采用“動靜態(tài)流動模式”，將粒徑分辨率由傳統(tǒng)的1:3提升至1:1.3，并可提供絕對分子量Mw、Mn、Mz及分布信息。

技術(shù)先進，精益求精：

“相位分析光散射技術(shù)”顯著提升低遷移率或高鹽環(huán)境下的Zeta電位測量精度；“毛細管微量樣品池技術(shù)”僅需1.5μL樣品即可完成粒徑檢測；“微流變檢測技術(shù)”能深入表征復(fù)雜流體粘彈性；“獨特楔形樣品池與光斑位置識別技術(shù)”實現(xiàn)0.1%精度的液體折射率檢測；多角度散射光檢測設(shè)計，提升靈敏度，支持0.1ppm至40% w/v的寬濃度范圍檢測。

BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀作為百特自主研發(fā)的高端儀器，現(xiàn)已成功應(yīng)用于國內(nèi)外醫(yī)藥、科研、食品、化學、納米材料制造等科研和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域，包括哈弗大學、劍橋大學、香港大學等國外名校。目前，該儀器已申請專利19件（授權(quán)11件），登記軟件著作權(quán)1項。

專家經(jīng)過嚴格審查與深入討論，一致給予“國際先進水平”的權(quán)威評價！

BeNano納米粒度及Zeta電位分析儀通過國家級行業(yè)協(xié)會權(quán)威成果評價，是對丹東百特30年堅持自主創(chuàng)新、追求卓越品質(zhì)的充分肯定。百特將繼續(xù)深耕顆粒表征領(lǐng)域，以先進的技術(shù)、可靠的產(chǎn)品和完善的服務(wù)，為用戶提供納米顆粒分析的最佳解決方案。