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粉體表面微粒子檢測(cè)

• 可視化表面附著顆粒：Parallel Eye D可以作為表面異物觀察光源，通過與D-light相同的原理，選擇性地可視化粘附到表面的熒光粒子。這使得它能夠檢測(cè)粉體表面附著的微小顆粒，幫助識(shí)別粉體在生產(chǎn)、運(yùn)輸或使用過程中可能受到的污染。

• 熒光顏色差異識(shí)別物質(zhì)類型：該設(shè)備還可以通過熒光顏色的差異來識(shí)別物質(zhì)的類型。這意味著在檢測(cè)粉體表面微粒子時(shí)，不僅能發(fā)現(xiàn)其存在，還能初步判斷這些微粒子的成分，這對(duì)于粉體質(zhì)量控制和污染源追蹤具有重要意義。

粉體加工環(huán)境監(jiān)測(cè)

• 懸浮微?？梢暬?/span>：Parallel Eye D不僅可以觀察粘附在表面的細(xì)顆粒和污垢，還可以觀察漂浮的細(xì)顆粒。在粉體加工環(huán)境中，如粉碎、混合、篩分等工序，會(huì)產(chǎn)生大量的懸浮微粒，這些微粒可能會(huì)影響粉體的質(zhì)量和加工設(shè)備的性能。通過Parallel Eye D，可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)這些懸浮微粒的分布和濃度，及時(shí)采取措施減少粉塵污染。

• 遠(yuǎn)程可視化：該設(shè)備的光源可以到達(dá)很遠(yuǎn)的地方，即使在距離光源幾米遠(yuǎn)的地方，也能實(shí)現(xiàn)微粒的可視化。這使得它能夠在粉體加工車間等較大空間內(nèi)進(jìn)行有效的監(jiān)測(cè)，無需近距離接觸設(shè)備或物料，提高了監(jiān)測(cè)的靈活性和安全性。

粉體質(zhì)量控制與優(yōu)化

• 與圖像處理軟件結(jié)合：Parallel Eye D可以與圖像處理軟件包“Particle Eye”結(jié)合使用，在PC上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄。這樣可以對(duì)粉體表面的微粒子進(jìn)行定量分析，記錄微粒子的數(shù)量、大小和分布等信息，為粉體質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持。

• 低成本高靈敏度檢測(cè)：與低功率激光器相比，Parallel Eye D結(jié)合高靈敏度相機(jī)“Eyescope”可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度的氣流和細(xì)顆?？梢暬?，且成本相對(duì)較低。這對(duì)于粉體生產(chǎn)企業(yè)來說，是一種經(jīng)濟(jì)高效的微粒子檢測(cè)解決方案，有助于降低質(zhì)量控制成本，提高生產(chǎn)效率。