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日本YAMADA山田 高輝度半導體檢查燈品牌
秋山貿(mào)易產(chǎn)地
廣東樣本
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日本YAMADA山田 高輝度半導體檢查燈
這是一種光源裝置,通過使用用于檢查 si 晶園和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux(30Ф)或更高的照明,可以觀察到細微的劃痕。
日本YAMADA山田半導體檢查燈產(chǎn)品特點:
可照亮樣品表面400.000Lxl以上。
2、光源采用鹵素燈,色溫高,照度不均小,光線極其穩(wěn)定銳利。
3、采用冷鏡,熱量的影響極大地降低到傳統(tǒng)锠鏡的1/3。
4、兩級切換機構,一鍵實現(xiàn)高照度觀察和低照度觀察。YP-1501照度范圍:30mmp
基本信息高強度鹵素光源裝置
超精密平面檢測的理想選擇!通過驚人的照明,可以檢測小于 0,2 um 的缺陷。“YP-1501"是一種用于顯微觀察的照明裝置,用于檢測*終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等,是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶
樣品表面的照度可超過 400.000 Lx。
另外,由于采用鹵素燈作為光源,色溫高,
光照不均勻的情況很少,光照***穩(wěn)定銳利:
姊妹機“YP-2501"也可用于 8 英寸。
暫無數(shù)據(jù)!
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