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QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)品牌
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QT-4100綜合測(cè)試系統(tǒng)，適用于三極管、二極管、齊納二極管、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化鎵）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測(cè)試）、光電耦合器等產(chǎn)品及晶圓。 可擴(kuò)展：可控硅測(cè)試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開(kāi)關(guān)時(shí)間（TST， TR ，TF， TON）、熱阻測(cè)試（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等。
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