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表面材料測量儀
Kaleo-R能滿足研發(fā)實驗室以及任何生產(chǎn)線的需要。你是否想測試生產(chǎn)光學器件或你有一個積分，希望測試外部供應商的光學器件，使用Kaleo-R，你不需要一個特定的光學實驗室以檢查表面質(zhì)量。
在幾秒鐘之內(nèi)，你可以得到一個GO/NO GO符合你的鏡頭表面質(zhì)量報告。非球面化誤差或缺陷模型的發(fā)現(xiàn)多虧了表面設(shè)計的對比。
Kaleo-R是即時的、非接觸式和精確的2D表面表征的解決方案。幾秒鐘能確定光學器件表面質(zhì)量及其曲率半徑。
快速的非接觸式測量診斷整個表面質(zhì)量
PHYSICS**的波前傳感器和計量技術(shù)，自動測量是高度可再生且準確的。
主要特點
• 電腦輔助設(shè)置和對齊
• 自動測量表面特性（RMS， PtV）
• 與理論上的表面對比
• 自動測量曲率半徑
• 符合ISO 10110光學圖標準
• 可自訂報告
• 便于使用和人性化的設(shè)計
效益
• 即時得到整個表面特征
• 非接觸式測量
• 2D高分辨率表面圖
• 高動態(tài)(高達500um)
• 沒有計算機制全息圖(CGH)需要
• 對振動不敏感:可用于生產(chǎn)環(huán)境
• 獨立操作
應用
• 非球面的表面質(zhì)量控制
• 模控制
• 快速塑料透鏡控制
• 平面控制
KALEO-R10參數(shù)
平行光束直徑 | 10 mm |
直徑-范圍(多達) | 9 cm (CX) 25 mm (CC) 10 mm (F) |
曲率半徑-范圍(多達) | 17 mm (CX) 70 mm (CC) |
曲率半徑-精密 | < 2 um |
表面質(zhì)量-精度 | 50 nm |
表面質(zhì)量-重復性(RMS) | 2 nm (1σ) |
表面質(zhì)量-抽樣(多達) | 300 x 300 點 |
非球面的凹陷 | 100 um |
暫無數(shù)據(jù)！
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