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多功能X熒光光譜儀（痕量元素分析+ELV（ROSH）+鍍層厚度測量）

應用于：

•鉛隔汞鉻溴等有害元素痕量分析

•焊料合金成分分析和鍍層厚度測量

•電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量

•五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量

•重金屬合金分析和牌號鑒定

產(chǎn)品特點：

結合大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器良好的信躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應用選擇*合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。