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這款四點探針系統(tǒng)是一款易于使用的工具，用于快速測量材料的薄層電阻，電阻率和電導(dǎo)率。通過使用我們自己的源測量單元，我們能夠創(chuàng)建一個低成本的系統(tǒng)，使測量范圍更廣泛。探頭采用彈簧加載接觸，而不是尖銳的針頭，防止損壞精密樣品，如厚度在納米左右的聚合物薄膜。

四點探針系統(tǒng)為您的研究提供以下益處：

?廣泛的薄膜電阻測量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□

?彈簧加載的探針保護易損的樣品免受損壞

?體積小巧，可用于空間有限的繁忙實驗室

?易操作的PC軟件，用于薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率的測量

?使用自動校正因子計算加快材料表征

?使用保存設(shè)置可輕松重復(fù)測量

特征：

廣泛的測量范圍 - 四點探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。

非破壞性測試 - 設(shè)計時考慮到了精密樣品的測量，四點探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時仍能提供良好的電接觸。

節(jié)省空間的設(shè)計 - 通過垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c探頭的占地面積降至*低（總臺面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實驗室中使用。

易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開始使用！直觀的界面和清潔的設(shè)計，簡化了薄膜電阻的測量。

快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測量和計算，從而使材料表征變得毫不費力。

不要忘記保存您的實驗數(shù)據(jù) - 用于測量的設(shè)置會與數(shù)據(jù)一起保存，從而輕松查看實驗的詳細信息。此外，這些設(shè)置文件可以通過相同的軟件加載，加快重復(fù)測量和材料表征。用更少的時間重復(fù)測量，您的研究成果可以顯著增加

應(yīng)用示例：

材料特性 - 電阻率是材料的固有特性，也是重要的電學(xué)特性。它可以通過測量已知厚度的薄膜薄層的電阻來確定，這使得四點探針測量成為材料電特性的關(guān)鍵技術(shù)。

薄膜太陽能電池和發(fā)光二極管 - 薄膜器件（如鈣鈦礦太陽能電池或有機發(fā)光二極管）需要薄的導(dǎo)電電極，橫向輸送電荷以進行提取。因此，需要低表面電阻材料來減少這個階段的潛在損失。當(dāng)試圖放大這些設(shè)備時，這變得更加重要，因為電荷在它們可被提取之前，不得不沿著電極方向行進。

測量規(guī)格