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系統(tǒng)配置:
■賽默飛 IRIS Intrepid II XSP 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES
這臺(tái)儀器狀況良好,已經(jīng)在SpectraLab Scientific進(jìn)行了測(cè)試。
所有套件和組件均包含90天保修。
儀器實(shí)物圖:
儀器簡(jiǎn)介:
一、用途及功能
用途:廣泛應(yīng)用于環(huán)境、冶金、地質(zhì)、農(nóng)林、石化、礦物、材料、食品、衛(wèi)生和醫(yī)藥等領(lǐng)域。
基本功能:可同時(shí)測(cè)定73種金屬及部分非金屬元素測(cè)定,可進(jìn)行定性及定量分析。
二、主要技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)
主要技術(shù)指標(biāo):
1. 焦距:381 mm
2. 波長(zhǎng)范圍:165~1050 nm, (可測(cè)量Br, Cl, I元素)
3. 分辨率:0.005nm在200 nm處
4. 雜散光: < 0.3 ppm,10000 ppmCa 在As193.696 nm處
5. 全波長(zhǎng)自動(dòng)校正
6. 晶體控制頻率:27.12 MHz
7. 頻率穩(wěn)定性:0.004%
8. 輸出功率: 750~1500 W連續(xù)可調(diào)
9. 功率穩(wěn)定性:0.01%
10. ICP 觀測(cè)方式:垂直炬
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