參考價(jià)格
面議型號(hào)
UltraSorb X800品牌
產(chǎn)地
中國樣本
暫無誤差率：
/分辨率：
/重現(xiàn)性：
比表面積：<=1%，孔徑重復(fù)偏差：<=0.01nm儀器原理：
靜態(tài)容量法分散方式：
/測(cè)量時(shí)間：
/測(cè)量范圍：
比表面積：0.01 m2/g（氮?dú)猓?0.0005 m2/g（氪氣）-無上限； 孔徑：0.35 nm-2 nm微孔 ，2 nm-500 nm( 中孔或大孔 )看了國儀精測(cè)高性能微孔分析儀的用戶又看了
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產(chǎn)品簡介：
高性能微孔分析儀UltraSorb聚焦于微孔材料的表面特性表征，設(shè)備在不銹鋼管路基礎(chǔ)上，突破性設(shè)計(jì)VCR金屬面密封樣品管，提升氣體管路流轉(zhuǎn)過程中的整體密封性，具有真空度長時(shí)間保持性、超低分壓比、溫度控制恒定、多通量等獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。設(shè)備可以廣泛應(yīng)用于環(huán)保、燃料電池、醫(yī)藥和催化等行業(yè)。
產(chǎn)品參數(shù)：
測(cè)試數(shù)量： 2/3站，可擴(kuò)展4/6/9站
測(cè)試范圍： 比表面積：0.01 m2/g（氮?dú)猓?0.0005 m2/g（氪氣）-無上限；
孔徑：0.35 nm-2 nm微孔 ，2 nm-500 nm( 中孔或大孔 )
測(cè)試精度：比表面積重復(fù)精度≤± 1.0 %
*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.01 nm
分壓范圍： 1*10-9～0.998
壓力傳感器：配套3Bar1，Torr，0.1Torr壓力傳感器，3Bar精度：0.05%FS；1Torr精度：0.15%FS；0.1Torr精度：0.15%FS；電離真空計(jì)：0.05Torr
樣品管：采用金屬VCR樣品管接頭保證氣體流動(dòng)過程中的密封性
管路系統(tǒng)：管路內(nèi)壁全拋光且進(jìn)行烘烤處理，漏氣率可達(dá)漏氣率達(dá)10-11Pa.m3/s；油浴控溫保持管路溫度恒定；控溫精度可達(dá)0.05℃；
暫無數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承浴⒃隽餍院蜐櫥栽谥苿┥a(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤滑劑，比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計(jì)算模型 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（一） 動(dòng)、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
6月，國儀量子客戶成功團(tuán)隊(duì)在全國范圍內(nèi)成功開展了【儀心儀意】客戶服務(wù)季活動(dòng)，通過深入寧夏、青海、哈爾濱、大連、武漢、廣東等多地客戶現(xiàn)場(chǎng)，開展專項(xiàng)服務(wù)與培訓(xùn)，切實(shí)保障客戶儀器穩(wěn)定運(yùn)行。01寧夏大學(xué)在寧夏
此次平臺(tái)建設(shè)中，我們明確選用國產(chǎn)FIB（國儀量子DB550）設(shè)備。這一決策不僅響應(yīng)了國家科技自立自強(qiáng)的號(hào)召，也將在實(shí)際應(yīng)用中驗(yàn)證國產(chǎn)設(shè)備的技術(shù)實(shí)力?！贾蓦娮涌萍即髮W(xué)電子信息大儀中心主任兼掃描電鏡技
不忘初心 砥礪前行6月30日，為慶祝中國共產(chǎn)黨成立104周年，國儀量子黨支部組織全體黨員開展了主題黨日活動(dòng)，國儀量子公司黨員和董事長賀羽參加。
國儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對(duì)芯片的性能
國儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí)，Al 互連導(dǎo)線
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